检测样品：电器件

检测项目：耐磨检测，浊度检测，可靠性检测，冷热冲击检测，气密性检测，性能指标检测等。

检测周期：7-15个工作日(参考周期)

检测标准参考

ASTM E1143-2005(2010)测定有关试验参数的光电器件参数线性的试验方法

BS EN 60904-1-2006光电器件.第1部分:光电池电流.电压性能的测定

BS EN 60904-2-2007光电器件.第2部分:基准太阳能电池的要求

BS EN 60904-5-1996光电器件.第5部分:用开路电压法对光伏装置的等效电池温度的测定

BS EN 60904-7-2009光电器件.光电器件的试验中波谱失调错误传输计算

BS EN 60904-8-1998光电器件.光电器件波谱反应的测量

BS EN 60904-10-2010光电器件.线性度测量方法

BS EN 61727-1996光电器件(PV)系统-通用接口的特性

BS EN 61837-4-2004频率控制和选择用表面安装的压电器件.标准外形和端头连接器.混合外壳轮廓图

BS EN 62007-1-2009光纤系统用半导体光电器件.基本额定值及特性

BS EN 62007-2-2009光纤系统用半导体光电器件.测量方法

CECC MUAHAG VOL 6 IS 3-1991首选产品目录:压电器件(英、法、德)

CEI EN 60747-5-2-2002分立半导体器件和集成电路。第5-2部分:光电器件。基本额定值和特性

CEI EN 61240-2013压电器件.频率控制和选择用表面安装器件外形图的制备.一般规则

CEI EN 61837-1-2013频率控制和选择用表面安装压电器件.标准外形和终端引线连接.第1部分:塑料模制外壳外形

CEI EN 61837-2-2012频率控制和选择用表面安装压电器件.标准外形和终端引线连接.第2部分:陶瓷外壳

CEI EN 61837-3-2003频率控制和选择用表面安装压电器件标准外形和终端引线连接第3部分:金属外壳

CEI EN 61837-4-2005频率控制和选择用表面安装压电器件标准外形和终端引线连接第4部分:混合外壳外形

CEI EN 62007-1-2010光纤系统应用的半导体光电器件.第1部分:基本额定值和特性的规范模板

CEI EN 62007-2-2010光纤系统应用的半导体光电器件.第2部分:测量方法

了解中析

实验室仪器

合作客户